нанолитография
21диэлектрик — Термин диэлектрик Термин на английском dielectric Синонимы Аббревиатуры Связанные термины пироэлектрик, полупроводник Определение термин, введенный М. Фарадеем и используемый для обозначения среды, в которой может длительное время существовать… …
22нанофотоника — Термин нанофотоника Термин на английском nanophotonics Синонимы нанооптика Аббревиатуры Связанные термины фотоника, фотонная интегральная схема, плазмон Определение область науки и техники, связанная с изучением физических явлений, возникающих… …
23жидкий кристалл — Термин жидкий кристалл Термин на английском liquid crystal Синонимы мезофаза Аббревиатуры Связанные термины анизотропия, критическая концентрация мицеллообразования Определение разновидность жидкого состояния вещества, которая характеризуется… …
24Технология — ПодразделыНаноэлектроника, компонентная база и устройстваМолекулярная электроника и устройства на ее основеСпинтроника и устройства на ее основеНанотехнологии в фотонике и оптоэлектронике, компонентная база и устройстваМетоды обработки и… …
25Сканирующий туннельный микроскоп — Схема работы сканирующего туннельного микроскопа Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ …
26Кантилевер — Для улучшения этой статьи желательно?: Найти и оформить в виде сносок ссылки на авторитетные источники, подтверждающие написанное …
27Особенность-ориентированное сканирование — (ООС, англ. FOS – feature oriented scanning)[1][2][3][4] способ прецизионного измерения рельефа поверхности на сканирующем зондовом микроскопе, при котором особенности (объекты) поверхности служат в качестве опорных точек для привязки зонда… …
28Особенность-ориентированное позиционирование — (ООП, англ. FOP feature oriented positioning)[1][2] способ прецизионного перемещения зонда сканирующего микроскопа по исследуемой поверхности, при котором особенности (объекты) поверхности используются в качестве опорных точек для привязки… …
29Встречное сканирование — (ВС, англ. CS counter scanning)[1][2][3] способ сканирования, позволяющий исправлять искажения растра, вызываемые дрейфом зонда сканирующего микроскопа относительно измеряемой поверхности. В ходе ВС получают два скана поверхности – прямой и… …
30Сканирующий атомно-силовой микроскоп — Атомно силовой микроскоп Атомно силовой микроскоп (АСМ, англ. AFM atomic force microscope)  сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от дес …
