зондовый
91Пархоменко, Юрий Николаевич — Юрий Николаевич Пархоменко Дата рождения: 10 января 1949(1949 01 10) (63 года) Страна …
92Нанослой — (nanolayer) – слой атомов или молекул, ионов, кластеров, коллоидных частиц и т.д. (далее структурных единиц) на поверхности подложки по толщине соизмеримый с размером в доли, единицы или десятки нанометров. Используется при описании двумерных… …
93Танигути, Норио — Норио Танигути Дата рождения: 27 мая 1912(1912 05 27) Дата смерти: 15 ноября 1999(1999 11 15) (87 лет) Страна …
94ISO 14594:2003 — изд.1 J TC 202/SC 2 Анализ с использованием микропучка. Электронно зондовый микроанализ. Руководящие указания по определению экспериментальных параметров для волновой дисперсионной спектрометрии раздел 71.040.50 …
95ISO 14595:2003 — изд.1 H TC 202/SC 2 Анализ с использованием микропучка. Электронно зондовый микроанализ. Руководящие указания по подробному описанию аттестованных стандартных образцов разделы 71.040.30, 71.040.99 …
96ISO 16592:2006 — изд.1 F TC 202/SC 2 Анализ с использованием микропучка. Электронно зондовый микроанализ. Руководящие указания по определению содержания углерода в сталях с использованием метода калибровочной кривой раздел 71.040.50 …
97ISO 17470:2004 — изд.1 E TC 202/SC 2 Анализ с использованием микропучка. Электронно зондовый микроанализ. Руководящие указания по качественному точечному анализу с использованием волновой дисперсионной рентгеновской спектрометрии раздел 71.040.99 …
98Характеристики методов распределительного элементного анализа — Метод Латеральное разрешение AL Глубина отбора аналитической информации Предел обнаружения, г монослоев мкм Масс спектрометрия твердых тел 104 106 …
99electron probe microanalysis — Electron Probe Microanalysis (EPMA) Электронно зондовый микроанализ Физические методы исследования и локального анализа поверхности твердых тел с помощью пучка сфокусированных электронов (зонда). Пучки электронов получают с помощью… …
100SPM — SPM СЗМ (Сканирующий Зондовый Микроскоп) Прибор, предназначенный для исследования свойств поверхностей материалов от микронного до атомарного уровня. В СЗМ существует три способа исследования поверхностей: сканирующая туннельная микроскопия,… …